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Beschreibung: N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO Kontrast; Durchlicht, einfallendes Licht, 2,5×, Arbeitsabstand: 11,2 mm
Artikel-Nr: LEIM11506083
VE: 1 * 1 ST
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA Öl; BF, DIC, POL, FLUO Kontrast; Durchlicht, 100×, Arbeitsabstand: 0,18 mm
Artikel-Nr: LEIM11506525
VE:
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO Kontrast; Durchlicht, 20×, Arbeitsabstand: 1,2 mm
Artikel-Nr: LEIM11506519
VE:
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO Kontrast; Durchlicht, einfallendes Licht, 2,5×, Arbeitsabstand: 11,2 mm
Artikel-Nr: LEIM11556036
VE: 1 * 1 ST
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, Fleck; BF, POL, DF, FLUO Kontrast; Durchlicht, 10×, Arbeitsabstand: 12 mm
Artikel-Nr: LEIM11556511
VE: 1 * 1 ST
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO Kontrast; Durchlicht, 40×, Arbeitsabstand: 0,36 mm
Artikel-Nr: LEIM11556065
VE: 1 * 1 ST
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO Kontrast; Durchlicht, 4×, Arbeitsabstand: 18 mm
Artikel-Nr: LEIM11556060
VE: 1 * 1 ST
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO Kontrast; Durchlicht, 20×, Arbeitsabstand: 0,92 mm
Artikel-Nr: LEIM11556071
VE: 1 * 1 ST
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: Kaltlichtquellen
Artikel-Nr: LEIM30221015
VE: 1 * 1 ST
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS

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Beschreibung: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO Kontrast; Durchlicht, 40×, Arbeitsabstand: 0,37 mm
Artikel-Nr: LEIM11506314
VE: 1 * 1 ST
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: Mikroskop, Digital, Leica® THUNDER imager assay package, Leica®
Artikel-Nr: 630-3396
VE: 1 * 1 SET
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: Mikroskop, Laser-Mikrodissektionssystem, Leica®, LMD6
Artikel-Nr: 630-3398
VE: 1 * 1 SET
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: AirTeach, AirTeach Softwarepaket für interaktive Schulungen am Mikroskop
Artikel-Nr: 630-3433
VE: 1 * 1 ST
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO Kontrast; Durchlicht, einfallendes Licht, 10×, Arbeitsabstand: 12 mm
Artikel-Nr: 630-3366
VE: 1 * 1 Pack.
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO Kontrast; Durchlicht, einfallendes Licht, 5×, Arbeitsabstand: 11,7 mm
Artikel-Nr: 630-3368
VE: 1 * 1 Pack.
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


Beschreibung: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO Kontrast; Durchlicht, einfallendes Licht, 20×, Arbeitsabstand: 1,15 mm
Artikel-Nr: 630-3367
VE: 1 * 1 Pack.
Lieferant: LEICA MICROSYSTEMS


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